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      荧光X线膜厚计

      荧光X线膜厚计
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      供应数量:
      1133
      发布日期:
      2025/1/7
      有效日期:
      2025/7/8
      原 产 地:
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      1133
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      镀层测厚仪中文视窗操作测量系统
      解析度0.001μm
      小测量面积0.1mmφ
      可测量合金层之厚度和组成比例
      可测量两层以上镀层之个别厚度
      籍由光谱分析可判定被测物之元素
      适用对象:IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业
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