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      荧光膜厚计

      更新时间:2024-06-24

      荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

      荧光膜厚计特点:


      中文视窗操作测量系统
      解析度0.001um, 小测量面积0.1mmΦ
      可测量合金层之厚度和组成比例
      可测量两层以上镀层之个别厚度
      藉由光谱分析可判定被测物之元素
      适用对象:1C导线架,封装业、PCB业、精密零
      件业、电镀业、电子业。

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

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